X熒光光譜儀與火花直讀光譜儀的區別和聯系
分析原理：
X熒光光譜分析儀是利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測元素的內層電子被激發打走，次內層電子回落到內層，同時產生一個光子，這個光子具有特定的頻率，與其他原子同樣條件下產生的光子不同，儀器再經過光柵色散，把這一種元素產生的單色光分離出來，再利用一個光電管，把這一種光信號轉變為電信號，這個電信號與試樣中被測物質的含量成一定的比例關系。但是這樣并不能獲得試樣中被測物質的含量，還必須與標準試樣在同樣條件下獲得的電信號進行比較才能獲得試樣中被測物質的百分含量。
熒光光譜儀原理，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為（10）-12-（10）-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態，這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨及在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。
X熒光光譜儀也是一種發射光譜法，但它的激發過程是利用光來激發，而輻射的波長在比紫外更短的X射線區，
熒光光譜儀產品特點
儀器是由計算機控制，自動化水平高，分析速度快，它不需要像火花直讀光譜那樣需要試樣具有導電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以同時完成多個被測元素或被測組分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時完成。多數用戶的X熒光光譜分析儀只是專門用來分析精礦粉、石灰、青石、白云石、爐渣、溶劑等不導電的試樣。同時它也可以進行金屬材料等導電試樣的分析。其他特點與直讀光譜相同。
X射線熒光直讀光譜儀可以分析粉末樣品、熔融樣品、液體樣品、固體樣品等，非金屬或金屬都可以分析。
火花直讀光譜儀只能分析固體樣品，而且要求樣品是導電介質，簡單的說就是分析金屬固體樣品中的金屬或非金屬元素。
（日本理學波長色散X射線熒光光譜儀）
最后說說它們的精度（分析正確度）
除了ICP以外，直讀光譜和X熒光都依靠標準樣品的質量。如果，不能準備完全的標準樣品，不可能得到標準偏差。標準樣品是當然一定要沒有偏析，正確的標準值。
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