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波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產品各有獨自的優勢，針對不同類的樣品檢測各有著長處之處，波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區別有哪些。
波長色散型X射線熒光光譜儀
能量色散型X射線熒光光譜儀
1、原理區別
X-射線熒光光譜法,是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線(X-熒光)。波長色散型熒光光儀(WD-XRF)是用分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的 特征X-射線波長和強度，從而測定各元素的含量。而能量色散型熒光光儀(ED-XRF)是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散 的X-射線熒光按光子能量分離X-射線光譜線，根據各元素能量的高低來測定各元素的量。由于原理不同，故儀器結構也不同。
2、功能區別
考慮到各種情況，能量色散型熒光儀和波長色散型熒光儀的檢測限基本相同。但在短波(高能光子)范圍內能量色散的分辨率好些，在長波(低能光子)范圍內，波長色散的分辨率好些。就定性分析而言，總的來說還是能量色散法好，又快又方便。就定量分析而言，在分析多種元素時 能量色散優于單道晶體譜儀。就測量個別分析元素而言，波長色散好些。如果分析的元素事先不知道，用能量色散較好，而分析元素已知則用多道晶體色散儀好。對易受放射性損傷的樣品，如液體、有機物(可能發生輻射分解)、玻璃品、工藝品(可能發生退色)等,用能量色散型熒光儀分析特別有利。能量色散型熒光儀很適于動態系統的研究。如在催化、腐蝕、老化、磨損、改性和能量轉換等與表面化學過程有關的研究。
總之，能量色散型熒光和波長色散型熒光這兩種儀器，各有各優點和不足,它們只能互補,而不能替代。
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